標題: SC和AT石英晶體的被動和主動老化比較

SC和AT石英晶體的被動和主動老化比較

通常進行石英晶體單元的預老化,是為了消除初始老化并驗證設備的長期穩(wěn)定性,在被動老化方法中,晶體單元是以合適的測量值進行測量系統(tǒng),只是在短時間內振動在測量過程中,隨著時間的推移,石英晶體行為不僅可以以共振頻率為特征,也是由抵抗和傳輸信號必要的晶體參數(shù),晶體可以在任意驅動下操作水平.

對于老化率良好的相關性被找到,每組的一個晶體是另外老化240天,將測量的長期老化結果與老化進行比較預測從前30天開始,四種不同類型的恒溫晶振單元,它比較被動老化的老化行為28天+80天,不同12天驅動水平和積極老化在以下34晶體連續(xù)運行的日子振蕩器,在測試振蕩器或最終振蕩器單元中所謂的主動預老化,晶體在哪里連續(xù)振動,輸出頻率為觀察一段時間,被動預老化方法是:只有水晶本身(不受影響)測量振蕩器.

石英晶振的其他效果,例如驅動水平依賴(DLD),可能導致不規(guī)則老化,可以很容易地檢測出來沒有焊接和去焊晶體(可靠性風險的來源)是必要的,常見的測量系統(tǒng)沒有被動老化測試需要足夠的精度高精度單位,具有mK穩(wěn)定性與此同時,這種情況有所改善該系統(tǒng)(XOTEX QXMS-A)允許精確度10'中的零件的再現(xiàn)性頻率測量的動態(tài)晶體參數(shù),如果和被動預老化的結果如何與之相關那些活躍的老化和如果不正常的在被動預老化中也可以識別活躍老化.

石英晶體單元的老化可以細分為三個間隔:穩(wěn)定期或初始老化,老化試驗期和推斷期,穩(wěn)定時間在上電后開始OCXO振蕩器已達到其運行狀態(tài)溫平衡并持續(xù)約一個或一個幾天,這是初始老化的時期,也就是說由物理過程決定的更短.time常數(shù),初始老化率通常是比后來觀察到的老化率更強,而且初始老化率的斜率可能是正的或消極的,并不一定與之相關此后觀察到的長期老化率.

在生產(chǎn)環(huán)境中老化測試期通常持續(xù)數(shù)周,對數(shù)形狀的頻率與時間老化曲線預計在表現(xiàn)良好的石英晶體振蕩器單元,也可觀察到當一個老化過程清楚時,很頻繁占據(jù)主導地位,告了幾種不同的老化功能文學,代表著不同的衰老機制,其中一些是純粹的沒有任何任務的數(shù)學方法物理過程,通常是線性的功能組合用于考慮一個以上的老化機制.

4種不同類型的工業(yè)制造的ATcut和SC切割的OCXO晶體振蕩器(見表1),被動老化是在自動測試中完成的,使用微橋技術的系統(tǒng)由Erich Hafner 181開發(fā)的與a精密溫度室,具有mK穩(wěn)定性,Thls系統(tǒng)(XOTEX型號QXMS-A)允許零件的準確性和可重復性運動的頻率測量值為lo3晶體參數(shù),被動老化測試是在+ 80°C的兩個后續(xù)階段進行28天12天,而在第一期全部用相同的RF測量晶體發(fā)電機輸出電平,在第二期設定發(fā)電機使得每個晶體操作如表1所示,在其標稱驅動水平大約每四個測量一次晶體小時,因此只在期間振動測量時間幾分鐘.

通過被動老化觀察到老化率,通常非常接近觀察到的那些在積極老化期間,有效的老化曲線遵循前面被動的曲線穩(wěn)定間隔后老化,即強大在被動老化的初始老化也重復積極老齡化,有老化率的系統(tǒng)依賴性可以找到驅動器級別,這些結果表明,被動老化測量能夠提供可靠的良好老化壓電石英晶體的結果,確定長期的可靠方法老化方式,因此觀察到的老化通常是各種產(chǎn)生的老化機制.