SEIKO千赫振蕩器
低電榮低損耗的匹配方式.使用低匹配的設計產品.如手機,電子表之類產品,可大大的節(jié)省電池的損耗,以上是些精工晶振的解決資料,可在技術下載中下載詳細匹配資料.
我們相信這是可能有助于增加使得減少在待機狀態(tài)下的待機功耗的RTC(實時時鐘)的最低目標使用電池的使用時間(10年或以上)音叉石英晶體諧振器,32 kHz晶體振蕩電路(待機電流= 32 kHz表晶的振蕩+的RTC +其他組件<0.7微安)的電流消耗0.1微安或更少。
對AT切晶體來說,在精工表晶使用初期,老化主要受元件內部應力釋放影響,頻率向升高方向變化,而后期受電極膜吸附的影響,,其頻率按對數關系向降低方向變化,隨時間增加變化量逐漸降低,見圖4。為減小出廠時的老化率,生產商大都對產品進行了預老化。
精工晶振正在努力建立一個新的市場。作為這些努力的一部分,我們已經制定了解決方案,降低消耗由32.768K晶體振蕩電路,我們的合作,并加強與半導體制造商,有助于大大降低了待機功耗在待機狀態(tài)下消耗的電流。
在努力實現超低功耗微控制器公司,豐富的電池供電的電子設備進行了優(yōu)化的微控制器產品陣容已經出現,這種微控制器的功能和性能已變得清晰?,F在,除了在待機操作,以減少待機功耗,延長電池壽命,實現超低功耗,在正常操作模式由間歇操作的要求是被優(yōu)先考慮。此外,微控制器,包含30千赫低速振蕩時鐘(看門狗定時器WDT),消耗盡可能少的待機電流為0.7微安或更少,使電池可以使用很長一段時間(10年或以上),現在在實際使用中。
目前電阻焊密封的石英晶振元件的老化率水平可以控制±5×10-6以下,對于普通精度產品(頻差大于±30×10-6)的應用來說,老化指標對元件工作影響并不是很重要,對于小公差(±0×10-6)以下)的晶體元器件來說老化是需要關注的指標。
我們認為有助于大大減少在待機狀態(tài)下的待機功率消耗由RTC(在1.8 V至0.7微安)是最優(yōu)先考慮的問題,因此,我們建立了1.8伏的電流大小為0.1 UA或以下的目標32.768 kHz晶體振器電路所消耗。把這樣的振蕩電路,投入實際使用,我們已經開發(fā)出專為超低功耗微控制器設計的低Cl諧振器產品。
對老化指標,一般都規(guī)定產品的老化水平,而它并非明確的試驗條件,這種“水平”,是通過生產有計劃的抽檢而獲得的??赡苣承﹤€別晶體元件比規(guī)定水平會差,這是允許的。
我們針對各種電池供電的電子設備,特別是和我們的技術努力(低Cl進口石英晶體諧振器的解決方案)與增加壽命和使用時間的電池,問題將變得越來越重要的市場,介紹如下。